兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
禁止：易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存;腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存;有害生物試樣的試驗(yàn)或儲存;強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲存;放射性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存;劇毒物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存;試驗(yàn)或儲存過程中可能產(chǎn)生上述物質(zhì)或物體的試樣的試驗(yàn)或儲存.
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1產(chǎn)品名稱
冷熱沖擊試驗(yàn)箱
本試驗(yàn)設(shè)備禁止：
易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存
腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存
有害生物試樣的試驗(yàn)或儲存
強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲存
放射性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存
劇毒物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存
試驗(yàn)或儲存過程中可能產(chǎn)生上述物質(zhì)或物體的試樣的試驗(yàn)或儲存
3容積、尺寸和重量
3.1標(biāo)稱內(nèi)容積
70L
3.2內(nèi)箱尺寸
W410mm×H460mm×D370mm
3.3外型尺寸
W1310mm×H1950mm×D1830mm（參見附圖）
3.4重量
約1500kg
4性能指標(biāo)
4.1測試環(huán)境條件
環(huán)境溫度為+5℃～+35℃、相對濕度≤85%
試驗(yàn)箱內(nèi)無試樣（另有說明的除外）
4.2測試方法
GB/T 5170.2-2017 溫度試驗(yàn)設(shè)備
4.3高溫室
(1)預(yù)熱上限溫度：200℃
(2)升溫時間：常溫→+200℃≤15min
注：升溫時間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時的性能
4.4低溫室
(1)預(yù)冷下限溫度：-77℃
(2)降溫時間：常溫→-75℃≤55 min
注：降溫時間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時的性能
4.5試驗(yàn)室（試樣區(qū)）
(1)試驗(yàn)方式：氣動風(fēng)門切換2溫區(qū)或3溫區(qū)
(2)高溫曝露溫度范圍：+60℃～+200℃
(3)低溫曝露溫度范圍：-70℃～0℃
(4)溫度波動度：1℃（如按GB/T 5170.2-1996表示，則為±0.5℃）
(5)溫度偏差：±2.0℃（≤+150℃時）
±3.0℃（＞+150℃時）
4.6溫度恢復(fù)性能
(1)溫度恢復(fù)時間：≤5 min
(2)恢復(fù)條件：
高溫曝露：+150℃ 15min
環(huán)境溫度曝露：<——>
低溫曝露：-65℃ 15min
試樣重量：3.5kg
(塑料封裝IC，均布于2個試樣籃）
傳感器的位置：試樣的上風(fēng)口側(cè)
電源電壓：規(guī)定電壓
冷卻水溫：+25℃
4.7噪音
≤69dB（A）
噪音值是在離設(shè)備正面1m、高度1.2m處測得的數(shù)據(jù)（自由空間中）
4.8滿足試驗(yàn)方法
GB/T 2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 試驗(yàn)Ab：低溫
GB/T 2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 試驗(yàn)Bb：高溫
GB/T 2423.22-2012(IEC60068-2-14:2009) 試驗(yàn)Na：溫度變化
GJB 150.3A-2009 高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 溫度沖擊試驗(yàn)
（負(fù)載參見5.6，無有源熱負(fù)載）
